Khulbe, K: Synthetic Polymeric Membranes

Characterization by Atomic Force Microscopy

Von:Khulbe, K. C.;Feng, C. Y.;Matsuura, T.

ISBN: 9783540739937

ISBN-10: 3540739939

Artikelnummer: 119151

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Springer-Verlag GmbH,

Geb ,2008 ,198 Seiten

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Researchers in polymeric membranes as well as R&D professionals will find this work an essential addition to the literature. It concentrates on the method recently developed to study the surfaces of synthetic polymeric membranes using an Atomic Force Microscope (AFM), which is fast becoming a very important tool. Each chapter includes information on basic principles, commercial applications, an overview of current research and guidelines for future research.

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