Herrmann, D: Zielorientierte Methodiken zum Bestehen
Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B, C, D
Von:Herrmann, Daniel
ISBN: 9783406707896
ISBN-10: 3406707890
Artikelnummer: 14945245
Beck C H,Beck C. H.,Kt ,2017 ,300 Seiten
Kurzfristig nicht lieferbar
Verkaufspreis: 99,00 €
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Zum Werk
Für alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.
Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen.
Vorteile auf einen Blick
- Schritt-für-Schritt Vorgehensweisen
- Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt
- Details der Punktevergabe
- Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen
- Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen
- Tabellen als Bearbeitungshilfen
- praktische Tipps für die Prüfung
Zielgruppe:
Für Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung.
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